開爾文測試儀（功函數測試-科睿設備有限公司

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英國KP開爾文探針掃描
英國KP開爾文探針掃描是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數（Work Function）或半導體、絕緣表面的表面勢（Surface Potential）。材料表面的功函數通常由Z上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種Z靈敏的表面分析技術。

更新時間：2021-12-23型號：

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開爾文探針掃描系統
開爾文探針掃描系統是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由Z上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種Z靈敏的表面分析技術。

更新時間：2021-12-23型號：

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表面光電壓譜
表面光電壓譜進行專業研究時，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統作為開爾文探針系統的升級配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光強的石英鹵素燈可以達到開路電位來評估卷對卷硅太陽能電池的質量。

更新時間：2021-12-23型號：

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大氣環境光電子發射光譜
大氣環境光電子發射光譜1、大氣環境下使用 2、功能：光電子發射光譜+開爾文探針 3、測試能級：費米能級，導帶底能量，價帶頂能量，HOMO-LUMO，禁帶寬度，功函數等 4、局域態密度（Local Density of States, LDOS） 5、3分鐘得到：費米能級，功函數，局域態密度 6、非接觸無損測試，測試安裝簡單，操作容易

更新時間：2018-12-11型號：

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表面光電壓譜系統
表面光電壓譜系統150瓦直流可控光強的石英鹵素燈可以達到開路電位來評估卷對卷硅太陽能電池的質量，全數字化控制所有參數，包括光照強度和波長，該系統對樣品的質量，表面特性和缺陷狀態進行一體化的研究。

更新時間：2021-12-23型號：

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KP Technology掃描開爾文探針
KP Technology掃描開爾文探針非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試系統。

更新時間：2021-12-23型號：

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超高真空開爾文探針
超高真空開爾文探針開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，

更新時間：2018-12-11型號：

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氣氛可控開爾文探針
氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用先進的電子和硬件系統即時監測控制溫度和濕度變化，附加表面光

更新時間：2018-12-11型號：

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