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      • 飛行時間二次離子質譜
        飛行時間二次離子質譜

        飛行時間二次離子質譜是一種靈敏的表面分析技術,可以廣泛應用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結構信息。

        更新時間:2021-12-23型號:
      • 飛行時間二次離子質譜1
        飛行時間二次離子質譜1

        飛行時間二次離子質譜1是一種非常靈敏的表面分析技術??梢詮V泛應用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結構信息。

        更新時間:2018-12-11型號:
      • 質子轉移反應飛行時間質譜儀
        質子轉移反應飛行時間質譜儀

        質子轉移反應飛行時間質譜儀同時還可應用真正的渦度相關法(eddy-covariance)技術,擴展到對構成和誘導生物揮發性有機化合物(VOCs)進行生態系統通量測試。

        更新時間:2018-12-03型號:
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